智能装备调试和安检问题的解决办法

随着工业4.0时代的到来，产业改造升级的任务已经刻不容缓。各种高度智能化自动化信息化的设备被越来越多的应用到各行各业。由于设备的科技含量越来越高，涉及的领域也越来越宽广，因此通常一套设备既要有功能丰富的配套信息管理软件统筹管理，又要实现高度的自动化生产控制，而且内部的线路连接也更加繁琐复杂，在这种情况下调试设备的难度可想而知。而且不同于民用产品，工业产品对其安全稳定性的要求极为严格，所以定期的安全自检更是必不可少，在这种情况下，如何快速判读设备是否安全正常就变得十分重要了。

要想解决问题首先要分析问题，目前在摆在我们面前的是如何解决设备前期的调试问题和后期的安全监测问题，也就是就是产品的批量调试时间过长和产品的定期安检的置信度不够。

正所谓“它山之石可以攻玉”，借鉴其他行业的解决方法不失为一种良策。在芯片制造领域，每批次的芯片生产少则几万，多则几千万。那如何快速检测每个产品是否合格呢？答案就是自检逻辑。我们知道每个芯片都要实现它自己应该支持的逻辑功能，但却很少有人知道，它其实还包括一些“无用”的自检逻辑。在芯片越来越小型化的今天为什么还要添加额外的后期用不到的逻辑功能呢？当然是有原因的，那就是快速判读芯片是否合格，它能在极其短暂的时间内快速判读一个芯片是好的还是坏的。从时间这个角度来看，它浪费的哪一点硬件资源就显得微不足道了。所以我们的智能设备也要实现这样的自检逻辑，它的目的不仅仅是判断设备是否合格，更要定位问题所在。要定位到哪个模块有问题，要定位到哪个仪器有问题，要定位到哪条链路有问题，要定位到哪条线路连接有问题，甚至要定位到每一个开关，每一个阀门，每一个传感器。虽然我们在前期的开发时间会变长，但是它能大大缩短后期的批量调试的时间和并且显著提升产品定期安检的置信度，我们制造的每一个产品都像制造一个芯片的那样安全可靠让客户用的安心，与这些比起来前期开发的额外工作是值得的。

（作者：任海旺 天津通广集团数字实验室软件工程师）

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