【Western Digital】固件区学习之21模块

21号模块是smart日志模块。

硬盘SMART: 全称Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology自我监测、分析及报告技术。

这是现在硬盘普遍采用的数据安全技术，在硬盘工作的时候监测系统对电机、电路、磁盘、磁头的状态进行分析，当有异常发生的时候就会发出警告，是一种自动的硬盘状态检测与预警系统和规范。

下面是一块500G西数蓝盘的smart信息：

HD Tune Pro: WDC WD5000AAKS-OOA7B0 健康

ID 当前 最差 阈值 数据 状态 解释

(01) 原始读取错误率 193 192 51 5380 良 指从磁盘表面读取数据时发生的硬件读取错误的比率

(03) 马达旋转标准 130 113 21 6458 良 主轴旋转加速的平均时间

(04) 启动/停止计数 99 99 0 1044 良 一般来说开机一次这个就加1

(05) 重新分配扇区计数 200 199 140 0 良 物理坏道

(07) 寻道错误率 200 200 51 0 良 磁头寻道错误的比率

(09) 通电时间计数 97 97 0 2623 良 磁盘加电时间总小时数

(0A) 旋转重试计数 100 100 51 0 良 马达重试启动尝试的的总数

(0B) 校准重试计数 100 100 51 0 良 这个属性指被要求重新校验的次数

(0C) 电源周期计数 99 99 0 1023 良 这个属性是指这个硬盘电源 开/关 周期的总数。

(B8) 点到点错误检测计数 100 100 97 0 良 表示传输通过高速缓存内存数据缓冲区后主机和硬盘驱动器间的校验数据不匹配

(BB) 不可校正错误计数 100 1 0 7133 良 不能使用硬件ECC恢复的错误总数。

(BC) 命令超时 100 99 0 2 良 因为HDD超时导致放弃操作的数量

(BE) 气流温度 66 51 0 34 良 西数硬盘上气流温度和C2的值一样。

(C0) 不安全关机计数 200 200 0 105 良 磁头被载离媒体的次数计数。磁头能在没完全断电的前缩回。

(C1) 负载周期计数 200 200 0 928 良 从磁头零区域加载/卸载(升降)周期的次数,这是一个寿命参考值，本身不具任何指标性。

(C2) 温度 113 98 0 34 良 当前的内部温度。

(C3) 硬件 ECC 校正 200 200 0 0 良 不同的厂商有着不同的体系

(C4) 重新分配事件计数 200 190 0 0 良 这个计数就包含了上次读操作有错误的不稳定扇区。

(C5) 当前待映射扇区计数 192 192 0 1465 警告 逻辑坏道

(C6) 离线无法校正 200 199 0 143 良 读写错误不能被校正的扇区总数。

(C7) 接口 CRC 错误计数 200 200 0 0 良 在数据传输错通过接口电缆时被ICRC所确定的错误总数。不为0多为数据线问题。

(C8) 写入错误率 200 198 51 152 良 当写入一个扇区时错误的总数。如果持续快速升高，暗示盘体/磁头机械有问题。

注：当前为该属性的当前值，最差为最坏值，阈值为厂商规定的极限值，一般我们都只关注数据值。

从上面可以看出这个盘的C5 值已经达到1465，有警告。开始出现坏道。读写数据已经比较慢了。

接下来读取出这块硬盘的固件区的21号模块：



smart所在地址为3FA2，我们转到3FA2：



图中黑色部分后为我们上面用HD Tune查看到的smart信息，每项内容的长度为0xC。

我们看看第一项：

01 2F 00 C1 C0 04 15 00 00 00 00 00

01为ID， C1为当前值，C0为最差值，1504为数据值。

后面的每项同理。