芯片测试

基础练习 芯片测试

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问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

样例输出

1 3

# include <stdio.h>
int c[50][50]={-1};
int n;
int main()
{
    int i,j;
    int a[50];
    int count;
    scanf("%d", &n);
    for (i=1; i<=n; i++)
        for (j=1; j<=n; j++)
            scanf("%d", &c[i][j]);
    for (i=1; i<=n; i++)
        a[i] = i;
    for (i=1; i<=n; i++)
    {
        count=0;
        for (j=1; j<=n; j++)
        {
            if (c[j][i]==0)//i=j时 c[i][j]=-1 
                count++;
        }
        if (count > n/2)
            a[i] = 0;
    }   
    for (i=1; i<=n; i++)
        if (a[i] != 0)
            printf("%d ", a[i]);        
            
    return 0;
}