芯片功能测试故障分析
2005-12-07 11:23
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A类故障表现为demo板上是i2c offline,而在测试机台上表现一切正常。用示波器观测demo板表现卫i2c没有应答。初步判断为demo板与机台环节不一致。
通过比对demo板与机台的环境。对换了i2c线,电源,一直没有进展。
前期我们的工作是判断为什么i2c没有应答位。后来通过检测发现是在demo板上晶震输入没有信号,导致芯片不工作。测量晶震输入对地电阻发现A类芯片明显异常。
由于demo板上的晶震驱动较弱,导致A类芯片上的晶震信号被过滤掉。机台的驱动很强,故没有问题。
考虑在测试项上增加输入电阻检测,或者在PB上增加晶震。
通过比对demo板与机台的环境。对换了i2c线,电源,一直没有进展。
前期我们的工作是判断为什么i2c没有应答位。后来通过检测发现是在demo板上晶震输入没有信号,导致芯片不工作。测量晶震输入对地电阻发现A类芯片明显异常。
由于demo板上的晶震驱动较弱,导致A类芯片上的晶震信号被过滤掉。机台的驱动很强,故没有问题。
考虑在测试项上增加输入电阻检测,或者在PB上增加晶震。
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